| 293 - Laboratorio de Microscopía de Fuerza Atómica (MFA) |
| OPI: |
IMDEANANO |
| Centro: |
Fundación IMDEA Nanociencia |
| Departamento: |
Nanociencia |
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| Contacto: |
Francisco Terán |
| Dirección: |
Avda. Fco. Tomás y Valiente 7, Cantoblanco |
| Código Postal: |
28049 |
| Localidad: |
Madrid |
| Teléfono: |
91 4976841 |
| Fax: |
914976855 |
| e-mail: |
francisco.teran@imdea.org |
| web: |
www.nanociencia.imdea.org |
| Categoría: |
Trazabilidad
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| Información adicional: |
El Laboratorio de Microscopia de Fuerzas Atómicas del IMDEA Nanociencia ofrece un servicio de microscopía de fuerza atómica para la caracterización estructural, eléctrica o magnética de superficies y/o nano-estructuras de naturaleza muy diversa (metales, polímeros, biomoléculas, bacterias..). Las medidas que se pueden realizar son en modo contacto o tapping tanto en aire como en medio líquido. Contamos con un AFM que lleva acoplado un microscopio de fluorescencia invertido JPK modelo Nanowizard II para realizar medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos. En los próximos meses contaremos con un segundo AFM que permitirá realizar una caracterización más extensa: medidas en modo contacto y tapping en aire y en celda líquida, medidas eléctricas (medidas I-V, Microscopía de fuerza electrostática y de potencial superficial),magnéticas (Microscopía de fuerza magnética bajo campo magnético externo ) y medidas de indentación. Esta unidad científico-tecnológica ofrece un servicio multidisciplinar y dinámico a grupos de investigación que integran IMDEA Nanociencia así como, a través del servicio externo, a usuarios de otros organismos (centros de investigación y empresas. |
| Mapa del conocimiento: |
Si lo desea, puede ver la ubicación de Laboratorio de Microscopía de Fuerza Atómica (MFA) en el Mapa del Conocimiento madri+d.
El Mapa del Conocimiento madri+d le permite fácilmente localizar la información estratégica sobre las actividades que realizan tanto los grupos y programas de investigación de la Comunidad de Madrid como las empresas más innovadoras incluyendo a las nuevas empresas de base tecnológica, así como la Red de Laboratorios.
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| Tipo |
Producto |
Nombre |
Método |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización estructural de no-contacto |
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Medidas en modo no-contacto de superficies y/o nano-estructuras al aire o en medio líquido |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización eléctrica |
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Medidas I-V, Medidas potencial superficial, medidas fuerza electrostática |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización estructural de contacto |
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Medidas en modo contacto de superficies y/o nano-estructuras al aire o en medio líquido |
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Físicos |
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Nuevos materiales |
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Caracterización magnética |
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Medidas fuerza magnética en ausencia o no de campo magnético externo |
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Nombre
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Rango
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Incer
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Observaciones
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Microscopio AFM Veeco Multimode o Microscopio AFM Nanotec |
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Medidas de caracterización estructural al aire o en medio líquido, medidas eléctricas, magnéticas |
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Microscopio de fluorescencia y AFM JPK,Nanowizard II |
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- |
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Medidas simultaneas de fluorescencia y AFM en sistemas biológicos |
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24.1 |
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Fabricación de productos químicos básicos |
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A-10 |
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Biofísica |
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E-25 |
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Metales , aleaciones |
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E-30 |
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Polímeros |
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E- |
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Materiales, Tecnologías de Fabricación |
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E-15 |
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Inspección, pruebas |
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